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7XB 檢測金相顯微鏡

平面平晶簡介

平行平晶是用于以干涉法測量塊規(guī),以及檢驗(yàn)塊規(guī)、 量規(guī)、零件密封面、測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差,為用平面平晶檢驗(yàn)量塊測量面的平面度誤差。點(diǎn)擊了解更多......

平面平晶的用途

  平面平晶的用途非常廣泛,主要集中在以下幾個(gè)方面:  平面度測量:平面平晶主要用于以干涉法檢驗(yàn)量具、量規(guī)和零件等表面的平面度。通過觀察平晶與被測表面接觸時(shí)產(chǎn)生的干涉條紋,可以精確評估被測表面的平面度情況,確保產(chǎn)品質(zhì)量符合設(shè)計(jì)要求。  表面質(zhì)量檢測:在制造業(yè)中......[查看詳情]

平面平晶的使用方法

  平面平晶是一種高精度的測量工具,主要用于以干涉法檢驗(yàn)量具、量規(guī)和零件等表面的平面度。其使用方法主要包括以下幾個(gè)步驟:  一、準(zhǔn)備階段  清潔平晶:使用前,需確保平面平晶的清潔度。通常,要用高純度酒精或乙醚等溶劑對平面平晶進(jìn)行清洗,并用干凈的綢布或亞麻布輕輕......[查看詳情]